2025 年 5 月 14 - 16 日，中國(guó)金屬學(xué)會(huì)煉鋼分會(huì)將在山東省濟(jì)南市舉辦“2025 年（第二十六屆）全國(guó)煉鋼學(xué)術(shù)會(huì)議”。會(huì)議主題為“綠色低碳、提質(zhì)增效、助力新質(zhì)新發(fā)展”，旨在探討煉鋼技術(shù)理論、關(guān)鍵共性技術(shù)等，推動(dòng)鋼鐵行業(yè)低碳、智能、高質(zhì)量轉(zhuǎn)型。

飛納電鏡將攜鋼鐵行業(yè)解決方案，助力鋼鐵企業(yè)通過(guò)微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析實(shí)現(xiàn)綠色、智能發(fā)展。歡迎鋼鐵領(lǐng)域?qū)＜摇W(xué)者、企業(yè)代表參會(huì)交流。

會(huì)議時(shí)間：2025 年 5 月 14-16 日

會(huì)議地點(diǎn)：山東 · 濟(jì)南 禧悅東方酒店

ParticleX Steel 

由于鋼中非金屬夾雜物的危害，生產(chǎn)高品質(zhì)潔凈鋼已成為鋼鐵行業(yè)發(fā)展的趨勢(shì)，生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于對(duì)非金屬夾雜物的有效控制，控制雜質(zhì)的關(guān)鍵就在于準(zhǔn)確、快速和全面地檢測(cè)夾雜物的尺寸、形貌和組成，并且對(duì)幾千個(gè)甚至上萬(wàn)個(gè)夾雜物的大量數(shù)據(jù)進(jìn)行全自動(dòng)的統(tǒng)計(jì)和冶金分析。冶金工程師和煉鋼部門(mén)只有通過(guò)及時(shí)地獲取直觀(guān)易懂的夾雜物分析數(shù)據(jù)報(bào)告，才能對(duì)煉鋼工藝過(guò)程中的非金屬夾雜物進(jìn)行有效的控制，從而保證高品質(zhì)鋼的穩(wěn)定生產(chǎn)。

在各種夾雜物分析技術(shù)中，目前國(guó)內(nèi)外認(rèn)可的準(zhǔn)確和可靠的方法是使用全自動(dòng)一體化的快速夾雜物分析儀對(duì)夾雜物進(jìn)行檢測(cè)分析。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡（OM）僅能評(píng)估夾雜物形貌，無(wú)法實(shí)現(xiàn)成分精準(zhǔn)分類(lèi)與統(tǒng)計(jì)，制約工藝優(yōu)化效率；而夾雜物自動(dòng)分析系統(tǒng)以?huà)呙桦婄R和能譜儀為硬件基礎(chǔ)，可以全自動(dòng)對(duì)鋼中非金屬夾雜物進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類(lèi)統(tǒng)計(jì)，為客戶(hù)的研發(fā)及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。

ParticleX Steel 全自動(dòng)鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)可對(duì)大尺寸樣品進(jìn)行原位統(tǒng)計(jì)，輸出夾雜物數(shù)量、尺寸分布、體積分?jǐn)?shù)及三元相圖成分分布等結(jié)果。相比手動(dòng)分析，效率提升 10 倍以上，且支持一鍵定位異常夾雜物進(jìn)行深度分析。

Phenom 飛納臺(tái)式掃描電鏡 

失效件斷口分析

斷口分析是金屬材料失效分析的重要手段，為斷裂機(jī)理和內(nèi)部狀態(tài)分析提供依據(jù)，不同的斷口形貌往往對(duì)應(yīng)這不同的斷裂類(lèi)型和機(jī)制，如象征韌性斷裂的韌窩，出現(xiàn)穿晶解理/沿晶斷口的脆性斷裂，帶有白點(diǎn)、魚(yú)眼型穿晶斷口的氫脆斷裂等等。飛納臺(tái)式掃描電鏡優(yōu)秀的二次電子和背散射電子成像可以幫助用戶(hù)快速的獲得斷口的形貌信息，通過(guò)對(duì)這些斷裂特征的分析，能夠很好的分析鋼鐵零部件的失效機(jī)理，反推產(chǎn)品性能，幫助優(yōu)化生產(chǎn)工藝。

除了斷口形貌外，由于鋼鐵材料中雜質(zhì)元素的存在、成分偏析、夾雜物等異常點(diǎn)常常會(huì)導(dǎo)致應(yīng)力集中，可以借助背散射電子和能譜分析對(duì)斷口處的異常點(diǎn)進(jìn)行分析，推斷失效原因。如下圖中為軸承鋼斷口掃描電鏡（SEM）圖，軸承鋼是一種合金含量少、性能優(yōu)良的鋼材，其應(yīng)用廣泛，經(jīng)過(guò)淬火加回火后，具有高而均勻的硬度。軸承鋼的基本質(zhì)量要求是純凈、組織均勻，通過(guò)對(duì)其斷口處的異常點(diǎn)進(jìn)行 EDS-mapping 后發(fā)現(xiàn)，在該處存在明顯的成分不均的富集相，這可能是該軸承鋼材料失效的重要誘因。

飛納電鏡型號(hào)推薦

Phenom AFM-SEM 原子力掃描電鏡一體機(jī)

Phenom Pharos 臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

Phenom XL 大樣品式版

Phenom ProX 電鏡能譜一體機(jī)

SEM 制樣設(shè)備-離子研磨儀

金相分析

晶間腐蝕隱蔽性強(qiáng)，突發(fā)性破壞幾率大，因此有嚴(yán)重的危害性。使用離子研磨儀 SEMPREP SMART對(duì)金相樣品進(jìn)行研磨后，可以很好的進(jìn)行晶粒、晶界的形態(tài)、成分分析。如下圖所示為 316 不銹鋼的晶界結(jié)構(gòu)（A）和晶界處的 EDS 分析結(jié)果（B），該結(jié)果清晰的展示了 Cr 元素在晶界處的富集。