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結(jié)合飛納臺(tái)式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測(cè)系統(tǒng)，以快速、簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步。快速、易用和超清晰成像質(zhì)量的飛納臺(tái)式掃描電鏡，加上顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶檢驗(yàn)、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創(chuàng)造了一個(gè)*工具。
Phenom Particle Metric顆粒測(cè)試以較快、較簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步。快速、易用和超清晰圖像質(zhì)量的Phenom飛納掃描電鏡，加上Particle Metric顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的*工具。
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