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Phenom Pharos G2 是飛納推出的臺式場發(fā)射掃描電鏡，可用于科研實驗室高分辨SEM觀察，適合多類材料的微納形貌表征。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于醫(yī)療器械涂層觀察，幫助分析涂層表面、截面和界面形貌。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于醫(yī)用材料表面形貌分析，幫助觀察材料表面結(jié)構(gòu)、孔隙和缺陷。

AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)（通用版）SEM 與 AFM 是亞納米級樣品分析中應(yīng)用廣泛且互補的兩大技術(shù)。將 AFM 集成至 SEM 中可融合兩者的優(yōu)勢，實現(xiàn)超高效工作流程， 完成傳統(tǒng) AFM 和 SEM 難以或無法實現(xiàn)的極限性能和復(fù)雜樣品分析。

全新發(fā)布的AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機 AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢，實現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對樣品進行多模態(tài)（SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學(xué)、磁學(xué)）關(guān)聯(lián)分析。